TWS耳机开合寿命试验机 FL-8706
一、设备简介:
充电盒翻盖寿命试验机用于耳机充电盒、翻盖手机、保护套等产品翻盖寿命测试,充电盒翻盖寿命试验机采用触摸屏控制,在一定角度、次数、速度模拟产品翻盖寿命测试。
二、技术参数:
1、测试工位:1工位
2、试验角度:0-180 度(触摸屏可设且显示)
3、测试速度:5-60 次/分钟(触摸屏可设)
4、翻盖次数:0-99999999 次(可预设且断电记忆功能)
5、测试治具:吸盘
6、测试台面高度:0-50mm(可调节)
7、固定治具:可调式,1组
8、测试动作:打开翻盖+闭合关闭
9、控制系统:触摸屏+PLC
10、驱动系统:步进电机
11、机台尺寸(L×W×H):约 500×450×550mm
12、工作电源:AC220V、50Hz
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